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产品描述
TMS-PRO和TMS-D能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率,可用于同一面板多个小孔测量,实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率等。
TMS-PRO(单通道) TMS-D(双通道)
仪器特点:
采用大角度采集全穿透式测量
采用数字视频对焦,使微小区域实现精准测量
实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测,自动调整显示坐标范围,可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析
可自定义测量方案,设置判定标准,自动判定“OK”和“NG”,使检测更快速,结果更准确
高性能探测器,单次测量小于1秒,重复性高
可对多孔进行快速测量
*小测量孔径可达φ0.3mm
应用范围:
手机面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量
弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量
太阳膜、滤光片光学元件透光测量
功能特点:
可测双孔定位 可调极小样品检测 样品平台可XY微调
数字相机视频对焦
智能化出结果
智能化和人性化的软件操作
实时显示测量样品指定波长位置的透射/反射数据,有效测量批量样品并确定质量检测结果。
质量检验
用户可以自定义质量检测项目,实时检测和判断任何波长的数据,并显示OK或NG,使检测更快,操作更方便。
技术参数:
型号 | TMS-PRO | TMS-D-Ⅰ | TMS-D-Ⅱ | |
---|---|---|---|---|
测量系统 | 全光谱 | 全光谱 | 全光谱 | |
检测器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony线形CCD 阵列 | Hamamatsu薄型背照式CCD | |
检出限 | 0.05% | 0.1% | 0.05% | |
光度准确性 | 0.5% | 0.5% | 0.5% | |
光度重复性 | 0.2%(420~950nm) | 0.5%(420~950nm) | 0.2%(420~950nm) | |
波长检测范围 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm | |
信噪比(全信号) | 450:1 | 250:1 | 450:1 | |
波长重复率 | 0.1nm | |||
样品测试平台 | X、Y轴可调 | |||
光源 | 高功率卤素光源 | |||
光斑直径 | >0.2~1mm(可选) | |||
样品大小 | ≥0.3mm | |||
测量时间 | <0.2s | |||
对焦方式 | 数字相机视频对焦 | |||
物镜 | 10X | |||
软件 | Qspec Suite V1.0,可显示单、多点波长数据,可手动和自动保存数据,自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出,超差报警提示,可根据用户标准校准机差。 | |||
操作系统/接口 | Windows 7~Windows 10/USB2.0 |